IEC 60512-1-1:2002-02

Platine unter Mikroskop im Labor
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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 1-1: Allgemeine Untersuchungen - Prüfung 1a: Sichtprüfungen Teil 1-1: Allgemeine Untersuchungen - Prüfung 1a: Sichtprüfungen

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International

IEC 60512-1-1:2002-02

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
28.02.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Ansprechpartner

Referat
Dipl.-Ing. Rainer Difflipp
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

8rz4v8.uzww2z66QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Sonja Diemer
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

9540r.uzv3v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-270

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