IEC 61788-7:2002-01

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Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

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05.10.2001 Historisch 0 0
90/111/FDIS:2001-10

Ersetzt durch:

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26.10.2006 Aktuell 0 0
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Supraleitfähigkeit -- Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-7:2002-01

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
22.01.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Ansprechpartner

Referat
Dipl.-Ing. Stefan Emde
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

9_vwr4.v3uvQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-257

Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

xrs8zv2v.x@2z9QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-357

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