IEC 61788-7:2002-01

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Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

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Entwurf war:

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05.10.2001 Historisch
90/111/FDIS:2001-10

Ersetzt bzw. ergänzt:

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26.10.2006 Historisch
IEC 61788-7:2006-10
Supraleitfähigkeit - Teil 7: Messungen der elektronischen Charakteristik – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-7:2002-01
Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
22.01.2002
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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