IEC 60793-1-32:2001-07

Futuristische Illustration von 5G
Sikov / Fotolia

Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Beziehungen

Entwurf war:

Futuristische Illustration von 5G
Sikov / Fotolia
23.02.2001 Historisch
86A/667/FDIS:2001-02
Lichtwellenleiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Ersetzt bzw. ergänzt:

Futuristische Illustration von 5G
Sikov / Fotolia
12.05.2010 Historisch
IEC 60793-1-32:2010-05
Lichtwellenleiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.07.2001
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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