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Skip Navigation LinksDKE-Startseite DKE-Arbeit Mitteilungen zur Normungsarbeit 2010 Verfahren für beschleunigte Produktprüfungen – neue Norm IEC 62506

Mitteilungen zur Normungsarbeit 

Verfahren für beschleunigte Produktprüfungen  

E DIN IEC 62506 erschienen

09.04.2010 

Für die Prüfung der Zuverlässigkeit oder für die Untersuchung von Ausfällen wurden viele Prüfverfahren entwickelt, die der Bestimmung der Produktzuverlässigkeit oder zur Ermittlung potentieller Produktausfallarten dienen. Diese Prüfverfahren können sehr langwierig sein, wenn die nachzuweisende Produktzuverlässigkeit hoch ist.

Die Tendenz hin zu kurzen Perioden von der Entwicklung bis zur Markteinführung als auch wettbewerbsfähige Produktkosten ergeben sehr strenge Anforderungen sowohl an wirtschaftliche als auch an wirksam beschleunigte Prüfungen. Aus diesem Grunde müssen die Produktprüfungen verkürzt werden, entweder durch die Verwendung erhöhter Belastungsniveaus oder durch eine häufigere Anwendung sich wiederholender Belastungen. Mit solchen beschleunigten Verfahren kann die Produktzuverlässigkeit nachgewiesen werden, und  durch geeignete Maßnahmen können potentielle oder verdächtige Ausfallarten identifizieren werden, deren Auswirkungen man danach abmildern und somit ein Zuverlässigkeitswachstum erreichen kann.

Der Entwurf für diese neue Norm leitet zur Anwendung verschiedener beschleunigter Prüfverfahren für die Messung und Verbesserung der Produktzuverlässigkeit an. Die Ermittlung potentieller Ausfallarten, die im Betrieb eines Produktes oder einer Einheit auftreten könnten, sowie deren Abmilderung ist eine Voraussetzung für die Zuverlässigkeitssicherung einer Einheit. Der Anwendungsbereich der beschriebenen Verfahren ist zum einen die Ermittlung potentieller Entwurfsschwächen samt der Bereitstellung von Angaben über die Produktzuverlässigkeit sowie zum anderen das Erreichen der notwendigen Zuverlässigkeitsverbesserungen innerhalb einer komprimierten oder beschleunigten Zeitachse.

Dieser Norm-Entwurf behandelt die beschleunigte Prüfung von nicht instand setzbaren sowie von instand setzbaren Systemen. Er kann angewendet werden auf Folge-Stichprobenprüfungen, auf Prüfungen fester Dauer und auf Zuverlässigkeitswachstumsprüfungen, bei denen die Maßgröße für die Überlebenswahrscheinlichkeit von der üblichen Ausfalleintrittswahrscheinlichkeit abweicht.

Der Norm-Entwurf kann beim Beuth Verlag bezogen werden.

Kontakt

DKE  Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE
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Adler, Thomas
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